X射线测厚仪测量原理

射线测厚仪的测量原理与同位素测厚仪的测量原理基本相同，都是基于射线穿过被测材料时，射线强度因板材的吸收而减少，其射线剂量的减少又与材料的厚度成一定的函数关系的这一现象来实现对被测板材的厚度测量。x射线测厚仪与同位素测厚仪的差异主要是在结构方面的差异和影响测量精度的主要因素不同。