NIST的混合计量方法可以提高计算机芯片

   在美国国家标准与技术研究所（NIST）开发的一个改进后的方法，用于测量纳米大小的物体，可以帮助计算机制造商更有效地分布无数的微型开关，封装到芯片的表面。该方法，这使多个测量仪器的使用和统计技术，已经提请注意从行业。
   这微小的硅柱，测量沿其两侧小于100纳米，是那种计算机芯片的功能，制造商现在可以测量更精确NIST的混合计量方法，它可以减少了挥之不去的不确定性，已长期困扰行业的测量工作。
   生活中没有什么是一定的，除了死亡和纳税，但在世界上的计算机芯片制造，不确定性是一个特别恼人的问题，尤其是当小于几十纳米测量功能。精密度和准确度控制一个复杂和昂贵的制造过程，以确保最终芯片的实际工作。但是，现代芯片的功能是如此的渺小，光学显微镜不